1
Rev 016
11.7 I
OFF
vs. T
A
60
50
40
30
20
10
0
-40 -30 -20 -10 0 10 20 30 40 50 60 70 80
Ta (?nbsp C)
12 Test Conditions
Note : DUT = Device Under Test
12.1 Supply Current
12.3 Output Leakage Curre
Hall Latch Hi
f 12
11.8 I
OFF
vs. V
DD
60
VDD = 3.5V
50
VDD = 12V
VDD = 24V
40
Ta = 25?/DIV>
Ta = 85?/DIV>
Ta = 150?nbsp C
30
20
10
100 110 120 130 140 150
0
3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 1
VDD (Volts)
12.2 Output Saturation V
12.4 Magnetic Threshold
S
1
h Sensitivity
Mar/12
17 18 19 20 21 22 23 24
ltage
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